Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜“バラつき”が今年のキー・ワード対策に関する論文が急増
日経マイクロデバイス 第266号 2007.8.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第266号（2007.8.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全472字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （322kb） |
| 雑誌掲載位置 | 119ページ目 |
「２００７ Ｓｙｍｐｏｓｉｕｍ ｏｎ ＶＬＳＩ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ」では，デバイスの特性バラつきに関する論文が大幅に増えた。バラつきに関する一般投稿論文のセッションが二つ組まれた（Ｓｅｓｓｉｏｎ ３Ａ “Ｖａｒｉａｂｉｌｉｔｙ ｉｎ ＳＲＡＭ”とＳｅｓｓｉｏｎ １１Ｂ “Ｖａｒｉａｂｉｌｉｔｙ ｉｎ ＣＭＯＳ”）ことに加えて，招待論文のみからなるＦｏｃｕｓ Ｓｅｓｓｉｏｎ（Ｓｅｓｓｉｏｎ ６Ａ…
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