Ｎｅｗ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ　測定モジュールの空き時間を大幅に削減〜測定モジュールの空き時間を大幅に削減
日経マイクロデバイス　第263号　2007.5.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第263号（2007.5.1）
ページ数	1ページ　（全569字）
形式	PDFファイル形式　（1081kb）
雑誌掲載位置	134ページ目

　ユーザーが設定したテスト項目を解析して測定モジュールを自動的に割り振ることで，測定モジュールの空き時間を短縮する機能を備えた半導体パラメトリック・テスター（図３）。この機能を「非同期パラレル・テスト」と呼ぶ。今回の製品は，既存の「Ａｇｉｌｅｎｔ　４０７０」の後継機種になる。プロセサを変えるなどして高速化を図ったが，ソフトウェアの互換性は維持した。４０７０向けのテスト・プログラムを今回の４０８０で…