New Products 画素数を1.5倍に増やし,検査時間を短縮〜画素数を1.5倍に増やし,検査時間を短縮
日経マイクロデバイス 第263号 2007.5.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第263号(2007.5.1) |
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ページ数 | 1ページ (全523字) |
形式 | PDFファイル形式 (1081kb) |
雑誌掲載位置 | 133ページ目 |
1600万画素のCCD(charge coupled device)を搭載した検査工程向けデジタル・カメラ(図2)。半導体製造プロセスや液晶パネル製造プロセスの欠陥検査などに利用できる。従来の検査用デジタル・カメラは最大1100万画素だった。画素数を1600万画素に増やすことで,従来の約1.5倍の領域を認識し,検査工程全体の効率を約30%向上できるようにした。画素構成は4872×3248で,3フ…
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