Ｎｅｗ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ　「セミコン・ジャパン２００５」特集〜開放故障やブリッジ故障，遅延故障に対応
日経マイクロデバイス　第246号　2005.12.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第246号（2005.12.1）
ページ数	1ページ　（全501字）
形式	PDFファイル形式　（498kb）
雑誌掲載位置	134ページ目

　ＬＳＩの故障個所を割り出す故障診断ソフトウェア（図１０）。ＬＳＩテスターからの故障データ，テスト・パターン，設計データのゲート・レベル・ネットリストを入力して使う。開発元の米Ｍｅｎｔｏｒ　Ｇｒａｐｈｉｃｓ　Ｃｏｒｐ．は，テスト・パターン作成容易化設計に使う「ＤＦＴ（ｄｅｓｉｇｎ　ｆｏｒ　ｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙ）ツール」の１機能として故障診断ソフトウェアを提供してきた。今回，同ソフトウェアの機能を…