New Products セミコンジャパン特集〜深掘り穴の側壁に段差が生じない
日経マイクロデバイス 第234号 2004.12.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第234号(2004.12.1) |
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ページ数 | 1ページ (全612字) |
形式 | PDFファイル形式 (217kb) |
雑誌掲載位置 | 126ページ目 |
MEMSデバイスに必要な深堀り穴の側壁を段差なく形成できるエッチング装置(図10)。開発元のアルバックが石英のエッチング装置としてすでに販売中の「NLDシリーズ」をSiの深堀り加工に使えるようにした。Siとレジスト・マスクとの選択比は200〜500と従来品に比べて一ケタ大きい。エッチング速度は5μm/分〜20μm/分と比較的速い。深堀りエッチング技術には,これまで「Boschプロセス」と「低温プ…
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