Ｃｏｖｅｒ Ｓｔｏｒｙ Ｐａｒｔ３ 次のＬＳＩの競争力〜遅延時間のチェックが必須に テスト・コスト最適化に各社が知恵絞る
日経マイクロデバイス 第229号 2004.7.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第229号（2004.7.1） |
|---|---|
| ページ数 | 8ページ （全11106字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （223kb） |
| 雑誌掲載位置 | 42〜49ページ目 |
１３０ｎｍ（ｈｐ１８０）チップの生産が本格化した２００３年ごろから，ＬＳＩテスターを使った量産テストが大きく変わった。かつて量産テストでは，チップ上の回路が電源や接地に短絡してしまう故障を専らチェックしていた。現在，それに加えて，回路の遅延時間もチェックする必要が出てきた。安価な量産用ＬＳＩテスターで遅延時間をチェックするには，チップ上にＬＳＩテスターの機能の一部を肩代わりするテスト専用回路を取り…
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Ｃｏｖｅｒ Ｓｔｏｒｙ Ｐａｒｔ１ 次のＬＳＩの競争力〜検査に付加価値が集中 装置メーカーは飛躍のチャンス
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