Cover Story Part1 次のLSIの競争力〜検査に付加価値が集中 装置メーカーは飛躍のチャンス
日経マイクロデバイス 第229号 2004.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第229号(2004.7.1) |
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ページ数 | 2ページ (全2356字) |
形式 | PDFファイル形式 (34kb) |
雑誌掲載位置 | 32〜33ページ目 |
和田木 哲哉野村證券 金融経済研究所 企業調査部エレクトロニクスグループ 先端プロセスの開発と歩留まりの改善に向けた一連の取り組みは,「神の声を聞く領域」と言われている。先端プロセスには,コンピュータ・シミュレーションや化学・物理分野の第一人者でも容易には突破できない壁が存在するためである。プロセス技術者は日々,あるかどうか分からない解を探すために頭を悩ませている。その悩みの解決に一役買ってくれる…
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