Cover Story とびら 次のLSIの競争力〜次のLSIの競争力
日経マイクロデバイス 第229号 2004.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第229号(2004.7.1) |
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ページ数 | 1ページ (全1016字) |
形式 | PDFファイル形式 (94kb) |
雑誌掲載位置 | 27ページ目 |
LSIメーカーの競争力の源泉が,大きく変わり始めた。設計・製造といった“作る技術”から,検査・解析・テストという“見る技術”にシフトしている。新材料の導入やチップの大規模化によって,トラブルの原因を究明することが困難になってきたからである。逆に,見る技術を強化できれば他社を圧倒できる可能性が高い。検査・解析・テストを軸にLSIメーカーの新たな競争が始まった。 (三宅 常之,木村 雅秀,小島 郁太…
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