Tech−On!Ranking[LSI]〜high−k/メタル・ゲート米Intelに続き米IBMが45nmで導入
日経マイクロデバイス 第261号 2007.3.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第261号(2007.3.1) |
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ページ数 | 1ページ (全289字) |
形式 | PDFファイル形式 (931kb) |
雑誌掲載位置 | 93ページ目 |
米IBM Corp.は,2008年に量産を始める45nm世代のLSIに,高誘電率(high−k)ゲート絶縁膜とメタル・ゲートを導入する。米国ニューヨーク州の同社の製造ラインに,これらの材料に対応する技術を導入済みである。IBMが45nm世代チップに導入するhigh−k/メタル・ゲート技術は,米Advanced Micro Devices, Inc.(AMD),東芝,ソニーとの共同開発による。チッ…
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