Ｉｎｓｉｄｅ ＥＤＡ〜１０年後の回路の劣化状況を確認できるシミュレータ
日経マイクロデバイス 第260号 2007.2.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第260号（2007.2.1） |
|---|---|
| ページ数 | 6ページ （全7409字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （1967kb） |
| 雑誌掲載位置 | 65〜70ページ目 |
ＮＥＣエレクトロニクスは，経年劣化した回路の動作を波形で確認できるシミュレータを開発した。一般的な回路シミュレータのＳＰＩＣＥに，同社が独自に開発したトランジスタの劣化モデルを組み込んで実現している。このシミュレータによって，設計段階で経年劣化を精度良く確認できるため，経年劣化を補償するための設計マージンを小さくできる。これにより，設計期間の短縮や，より高速なＬＳＩの提供が可能になった。約２年前か…
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