Ｓｐｅｃｉａｌ Ｆｅａｔｕｒｅ インタビュー集〜●アドバンテスト フラッシュ向けを強化 ＳｏＣ向けはＲＦ系を開拓
日経マイクロデバイス 第258号 2006.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第258号（2006.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全842字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （729kb） |
| 雑誌掲載位置 | 39ページ目 |
黒江 真一郎 氏執行役員 営業本部 副本部長 ソリューションビジネス統括部長 ２００６年は，主力のメモリー向けテスターが好調だった。ＳｏＣ（ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ ａ ｃｈｉｐ）テスター「Ｔ２０００」の売り上げは，２００５年ほどの高水準ではないが，２００台／年程度の売り上げを確保した。このほか，次の三つの成果があった。 第１に，ＤＤＲ２規格のＤＲＡＭ向けのテスターを拡充した。従来からのパッケージ済みＬ…
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