Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ ＳＯＩやｈｉｇｈ−ｋに対応〜ＳＯＩやｈｉｇｈ−ｋに対応 トランジスタのＩＶ特性測定システム
日経マイクロデバイス 第253号 2006.7.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第253号（2006.7.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全679字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （332kb） |
| 雑誌掲載位置 | 157ページ目 |
１０ｎｓという短いパルスを使って測定する半導体パラメトリック解析システム（図１）。直流で測定する半導体パラメトリック・アナライザの「Ｂ１５００Ａ」に，短パルスを生成するパルス発生器の「８１１１０Ａ」，高周波信号を解析するオシロスコープの「５４８５４Ａ」，および専用キットの「Ｂ１５４２Ａ」を組み合わせた。Ｂ１５４２Ａは専用のケーブルとコネクタ，Ｂ１５００Ａで稼働するソフトウェアで構成する。このソフ…
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