New Products 運転コストを15%削減〜運転コストを15%削減 化学汚染ガス除去装置「T−GET C」
日経マイクロデバイス 第253号 2006.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第253号(2006.7.1) |
---|---|
ページ数 | 1ページ (全613字) |
形式 | PDFファイル形式 (332kb) |
雑誌掲載位置 | 158ページ目 |
運転コストを従来品に比べて約15%削減できるクリーン・ルーム向け化学汚染ガス除去装置(図4)。クリーン・ルームでは外気に含まれるアンモニアや硫化物などの汚染ガスがウエーハに悪影響を及ぼし,半導体デバイスの歩留まりや信頼性を低下させてしまう。このため,外気をクリーン・ルームに取り込む際には,純水を含んだフィルタ素材に空気を通し,汚染ガスを純水中に溶け込ませるなどして除去する必要がある。ただ,従来は…
記事の購入(ダウンロード)
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円(税込)
他のIDで購入する
G-Search ミッケ!は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ(全613字)」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
(注)特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
- New Products パルス幅3nsで157万円〜パルス幅3nsで157万円 信号発生器「3401/3402型」
- New Products 測定時間を1/2〜1/3に短縮〜測定時間を1/2〜1/3に短縮 蛍光X線膜厚計「SFT9500」
- New Products 検査スループットを2倍に〜検査スループットを2倍に 液晶ドライバIC検査装置「ST6730 2400ピン仕様」
- New Products 検出幅を約40mm拡大〜検出幅を約40mm拡大 「Type2ライトカーテン SF2Bシリーズ」
- Watcher[International] ウオッチャ〜米SIAの半導体世界市場予測 2006年は対前年比+9.8% 2009年までの平均成長率は9.2%