Ｎｅｗ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ　２台のヘッドで異なるテストを実行〜２台のヘッドで異なるテストを実行
日経マイクロデバイス　第248号　2006.2.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第248号（2006.2.1）
ページ数	1ページ　（全578字）
形式	PDFファイル形式　（361kb）
雑誌掲載位置	103ページ目

　２台のヘッドで異なるテストを実行できるメモリーＬＳＩテスター（図３）。チップを載せるヘッドを２台まで取り付けられるＬＳＩテスターは市場に数多くあるが，両方のヘッドで同じ内容のテストを同時に実行するのが一般的だった。今回の製品は，ヘッドごとに異なる内容のテストが可能になっている。例えば，一つのヘッドでＤＲＡＭをテストしながら，もう一方のヘッドでフラッシュ・メモリーをテストできる。また，２台が同じ内…