Ｃｏｖｅｒ　Ｓｔｏｒｙ　Ｐａｒｔ２　インタビュー集〜●アドバンテスト　非メモリー向けテスターが拡大　課題はウエーハ・テスト向け
日経マイクロデバイス　第246号　2005.12.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第246号（2005.12.1）
ページ数	1ページ　（全809字）
形式	PDFファイル形式　（726kb）
雑誌掲載位置	126ページ目

田所　孝夫　氏常務執行役員　営業本部長　２００５年は次の三つの成果があった。　第１に，非メモリー向けテスター市場でわれわれのシェアを拡大できた。マイクロプロセサ向けで大手ユーザーから受注したほか，液晶ドライバＬＳＩ向けなどが好調だった。ＳｏＣ（ｓｙｓｔｅｍ　ｏｎ　ａ　ｃｈｉｐ）テスター「Ｔ２０００」は，２００５年の１年間で，大型筐体の機種で４００台程度，小型筐体の機種で５０台程度の出荷を見込めそう…