Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜半導体の永遠のテーマ 「バラつき」を徹底議論
日経マイクロデバイス 第242号 2005.8.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第242号（2005.8.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全483字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （262kb） |
| 雑誌掲載位置 | 117ページ目 |
「２００５ Ｓｙｍｐｏｓｉａ ｏｎ ＶＬＳＩ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ ａｎｄ Ｃｉｒｃｕｉｔｓ」のジョイント・ランプセッションでは「Ｖａｒｉａｂｉｌｉｔｙ Ｈａｓ Ｓｔｏｐｐｅｄ Ｓｃａｌｉｎｇ： Ｗｈｏ Ｗｉｌｌ Ｃｏｎｑｕｅｒ Ｔｈｅ Ｉｓｓｕｅｓ ｏｆ Ｖａｒｉａｂｉｌｉｔｙ？」というテーマで，７人のパネリストと２００人の聴衆の間で議論が行われた。「バラつき」は，半導体が生まれてから永遠のテ…
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