Cover Story 第3部 トレンド 製造&設計イノベーション 第3部 要素・技術〜トレンド●ウエーハ大口径化 450mm化とSOIに移行 チップ取れ数増,高速化を促す
日経マイクロデバイス 第242号 2005.8.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第242号(2005.8.1) |
---|---|
ページ数 | 2ページ (全2205字) |
形式 | PDFファイル形式 (188kb) |
雑誌掲載位置 | 46〜47ページ目 |
渡辺 正晴ニューフレアテクノロジー 2010〜2020年の「ウエーハ大口径化」におけるイノベーションは二つある。一つは300mm径から450mm径への移行,もう一つは,Si基板の上に酸化膜があり,その上にデバイスを作るさまざまな半導体層がある多層構造を持ったSOI(silicon on insulator)ウエーハが大規模に使われるようになることである。 ウエーハの450mm径への移行は,業界のコ…
記事の購入(ダウンロード)
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円(税込)
他のIDで購入する
G-Search ミッケ!は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「2ページ(全2205字)」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
(注)特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
- Cover Story 第3部 とびら 製造&設計イノベーション〜製造&設計イノベーション
- Cover Story 第3部 トレンド 製造&設計イノベーション 第3部 要素・技術〜トレンド●微細化 SiO2膜をhigh−k膜に置き換え 薄膜化による性能向上を推進
- Cover Story 第3部 トレンド 製造&設計イノベーション 第3部 要素・技術〜トレンド●高集積化 2010年以降も高集積化を維持 LSIの動作速度向上の限界を打破
- Cover Story 第3部 トレンド 製造&設計イノベーション 第3部 要素・技術〜トレンド●大容量化 セルをなくして微細化限界から開放 メモリー・カードでTバイト級実現
- Cover Story 第3部 トレンド 製造&設計イノベーション 第3部 要素・技術〜トレンド●ガラス基板大型化 印刷,ロール・ツー・ロールで製造 壁面や窓をディスプレイに置き換える