Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ セミコンジャパン特集〜設置面積を４０％削減
日経マイクロデバイス 第234号 2004.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第234号（2004.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1901字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （217kb） |
| 雑誌掲載位置 | 121ページ目 |
従来比で小型の筐体に収めた，モジュール構成のＳｏＣ（ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ ａ ｃｈｉｐ）テスター（図１）。Ｔ２０００はアドバンテストとしては，最初のモジュール構成のＳｏＣテスターである。モジュール構成のＳｏＣテスターは，ユーザーが筐体や各種テスター・モジュール（ボード）を選んでカスタマイズできる。Ｔ２０００の最初の大口ユーザーが米国の大手マイクロプロセサ・メーカーだったことから，アドバンテストが用…
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