Cover Story Part3〜リソより材料性能を重視 ひずみ,high−k,有機FETがブレイク
日経マイクロデバイス 第224号 2004.2.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第224号(2004.2.1) |
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ページ数 | 1ページ (全758字) |
形式 | PDFファイル形式 (262kb) |
雑誌掲載位置 | 45ページ目 |
露光技術に替わり,材料技術がロジックLSIの進化をけん引し始めた。ロジックLSIは,これまでSiトランジスタのゲート長を縮小する露光技術によって高速・低消費電力化を達成してきた。しかし,今後は露光技術を進化させずにチャネル材料やゲート絶縁材料を変えることによって高速・低消費電力化を達成していく。この具体例がひずみSiと高誘電率(high−k)ゲート絶縁膜である。さらに,露光による微細化では達成でき…
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