技術レター［ＬＳＩ設計＆パッケージ］〜ＩＰテストのための 標準仕様を 米ＶＳＩ Ａｌｌｉａｎｃｅが策定
日経マイクロデバイス 第196号 2001.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第196号（2001.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全351字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （25kb） |
| 雑誌掲載位置 | 33ページ目 |
ＩＰ品質保証システムＬＳＩ １チップに集積したＩＰ（ｉｎｔｅｌｌｅｃｔｕａｌ ｐｒｏｐｅｒｔｙ）の相互テストを実施するための標準仕様「Ｔｅｓｔ Ａｃｃｅｓｓ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ Ｓｔａｎｄａｒｄ Ｖｅｒｓｉｏｎ １．０（ＴＳＴ２ １．０）」を，米ＶＳＩ（Ｖｉｒｔｕａｌ Ｓｏｃｋｅｔ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）Ａｌｌｉａｎｃｅが策定した。同仕様はテスト・モードに関する規則や推奨条件から成り，ＩＰへの…
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