Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜小ロットの量産テストや品質評価工程に最適化
日経マイクロデバイス 第268号 2007.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第268号（2007.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全562字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （366kb） |
| 雑誌掲載位置 | 166ページ目 |
小ロットの量産テストを狙ったメモリーＬＳＩテスター（図２）。品質保証や特性の見極めなど，ある程度の個数のサンプル・チップが必要な評価工程にも使える。研究開発向けのメモリー・テスター「Ｖ５０００ｅ」に量産テスト向けの部品を追加して，小ロットの量産テスト向けに仕立て直した。主な追加部品は次の二つ。一つは「Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ Ｍａｔｒｉｘ」と呼ぶボックスで，テスターのリソース…
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