Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「ＳｙｓｔｅｍＶｅｒｉｌｏｇ」利用の機能検証が本格化効果の定量化に注目
日経マイクロデバイス 第262号 2007.4.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第262号（2007.4.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全426字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （334kb） |
| 雑誌掲載位置 | 104ページ目 |
「ＳｙｓｔｅｍＶｅｒｉｌｏｇ」の最大の特徴である“検証機能”が実際のＬＳＩ設計で本格的に生かされるようになってきた。ＥＤＡ（ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ｄｅｓｉｇｎ ａｕｔｏｍａｔｉｏｎ）の総合展示会「ＥＤＳ Ｆａｉｒ ２００７」併設の「ＳｙｓｔｅｍＶｅｒｉｌｏｇユーザ・フォーラム２００７」で，テストベンチ言語としてＳｙｓｔｅｍＶｅｒｉｌｏｇを利用したユーザー事例が２件発表された。特に，ソナックの清水…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ（全426字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「品質はタダではない」ＪＥＩＴＡが半導体加速試験のガイドラインを改訂
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜論理ＬＳＩ上で複数の不良が発生しても自己修復可能な技術をＮＥＣとＮＥＣエレが開発
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「高品質は生き残るための条件」自動車用半導体でルネサスに聞く
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜１月の半導体世界売上高が前年比９．２％増ＤＲＡＭは驚異の７２％増
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜４５ｎｍバルクＣＭＯＳでもＳＲＡＭが安定ルネサスと松下が共同開発
