Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜論理ＬＳＩ上で複数の不良が発生しても自己修復可能な技術をＮＥＣとＮＥＣエレが開発
日経マイクロデバイス 第262号 2007.4.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第262号（2007.4.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全462字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （334kb） |
| 雑誌掲載位置 | 104ページ目 |
ＮＥＣとＮＥＣエレクトロニクスは，出荷済みの論理ＬＳＩ上で複数の経年不良が発生した場合でも，自己修復が可能な技術を開発したと発表した。今回の技術は，主に二つの部分からなる。経年不良を検出する技術と，不良が発生した際に代替で動く予備回路を構成する技術である。前者は，経年変化を回路の遅延時間の増大として認識する特別なフリップフロップを，一般的なフリップフロップの代わりに使うことで実現する。パスの遅…
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