Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「品質はタダではない」ＪＥＩＴＡが半導体加速試験のガイドラインを改訂
日経マイクロデバイス 第262号 2007.4.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第262号（2007.4.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全447字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （334kb） |
| 雑誌掲載位置 | 104ページ目 |
日本電子情報技術産業協会（ＪＥＩＴＡ）は，「半導体デバイスの加速寿命試験運用ガイドライン」（ＥＤＲ−４７０４）の改訂を進めている。これによって，半導体の品質をチェックするための過剰な試験を是正して，品質と試験コストのバランスの適正化を狙う。「厳しい試験＝高品質の証」とユーザーが考えてしまうことには，さまざまな背景が考えられる。その一つが，コストと効果に対して，定量的な情報がほとんど開示されていな…
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