Ｒｅｐｏｒｔ［ＬＳＩ］〜設計とテストの連携を容易に　ＳＴＡＲＣがテスト開発のガイドライン
日経マイクロデバイス　第259号　2007.1.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第259号（2007.1.1）
ページ数	2ページ　（全2560字）
形式	PDFファイル形式　（218kb）
雑誌掲載位置	120〜121ページ目

　半導体理工学研究センター（ＳＴＡＲＣ）はＬＳＩの設計者とテスト技術者の情報交換の促進を狙った「ＳＴＩＬガイド」と呼ぶガイドラインの整備を進めている。ＬＳＩのテスト開発はプロセス微細化が進むにつれ難しくなっており，その難しさを緩和するためにテスト開発に設計のデータや情報を利用する動きが活発になってきた。今回のガイドラインはその動きを支援する。ＩＥＥＥの標準化が進展　ＬＳＩの設計者とテスト技術者が協…