Ｒｅｐｏｒｔ［ＬＳＩ］〜ＮＡＮＤ型フラッシュの新テスト手法　エラー訂正機能を活用し歩留まり向上
日経マイクロデバイス　第259号　2007.1.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第259号（2007.1.1）
ページ数	2ページ　（全2552字）
形式	PDFファイル形式　（207kb）
雑誌掲載位置	118〜119ページ目

　ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリーの製造歩留まりを高めるテスト手法を，アドバンテストが開発した。ＮＡＮＤ型フラッシュが備えるエラー訂正機能を活用して，これまで不良品と判定されていた良品を救済する。同社が２００６年１２月に発売したＮＡＮＤ型フラッシュ向けテスター「Ｔ５７６１」注１）にこの機能を初めて取り入れた。不良判定されていた良品を救済　アドバンテストが開発した手法の特徴は，デバイスが備える“自己修…