Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜Ａｇｉｌｅｎｔ，パラメトリック・テストで 従来比５倍の印加／測定を可能に
日経マイクロデバイス 第258号 2006.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第258号（2006.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全401字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （266kb） |
| 雑誌掲載位置 | 181ページ目 |
米Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｎｏｌｏｇｉｅｓ， Ｉｎｃ．は，最大４０チャネルの印加／測定ユニット（Ｓｏｕｒｃｅ／Ｍｏｎｉｔｏｒ Ｕｎｉｔ：ＳＭＵ）を構成できるパラメトリック・テスト・システムのオプション「Ａｇｉｌｅｎｔ Ｎ９２０１Ａ Ａｒｒａｙ Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ Ｐａｒａｍｅｔｒｉｃ Ｔｅｓｔ Ｏｐｔｉｏｎ」を発売した。これにより，パッシブ型アレイ・マトリックスをより高スループットでテストできるよ…
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