Tech−On!Ranking[LSI]〜浮遊ゲートの代替技術が続々 「メモリー・シンポ」報告
日経マイクロデバイス 第249号 2006.3.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第249号(2006.3.1) |
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ページ数 | 1ページ (全376字) |
形式 | PDFファイル形式 (257kb) |
雑誌掲載位置 | 83ページ目 |
フラッシュ・メモリーはどのプロセス世代まで延命できるのか。1月30〜31日に開催された「第4回半導体メモリー・シンポジウム」では,メモリー業界の最大の議論の的であるこの問題に対して,各社が見解を示した。韓国Samsung Electronics Co., Ltd. Senior Vice PresidentのKi−Nam Kim氏,米Intel Corp. Vice President, Tec…
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