Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜非接触の無線プロービング技術 カナダ社らが紹介
日経マイクロデバイス 第247号 2006.1.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第247号（2006.1.1） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全525字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （250kb） |
| 雑誌掲載位置 | 110〜111ページ目 |
従来とは一線を画するプロービング手法が，テスト関連の国際会議「ＩＴＣ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｔｅｓｔ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ） ２００５」で紹介された。カナダＳｃａｎｉｍｅｔｒｉｃｓ， Ｉｎｃ．とカナダＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ａｌｂｅｒｔａが，「Ｎｏｎ−Ｃｏｎｔａｃｔ Ｗａｆｅｒ Ｐｒｏｂｅ Ｕｓｉｎｇ Ｗｉｒｅｌｅｓｓ Ｐｒｏｂｅｓ」（講演番号１８．３）というタイトルで発表したものであ…
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