Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜Ｉｎｔｅｌが報告　ソフト・エラーの１／３は論理回路で発生
日経マイクロデバイス　第247号　2006.1.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第247号（2006.1.1）
ページ数	1ページ　（全384字）
形式	PDFファイル形式　（250kb）
雑誌掲載位置	111ページ目

　日本では，論理回路で発生するソフト・エラーをテストの問題として捉える動向はあまり見えないが，実動作時のテスト（オンライン・テスト）の研究はかなり進んでいる。例えば，米国テキサス州オースティンで開催された「ＩＴＣ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ　Ｔｅｓｔ　Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ）　２００５」で米Ｉｎｔｅｌ　Ｃｏｒｐ．は，「ソフト・エラーの約１／３が論理部で発生している」（講演番号　２８．３）と述べた。同…