Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ テスト対象チップを短時間に切り替え可能〜メモリーＬＳＩテスター「Ｖｅｒｓａｔｅｓｔ Ｖ５５００」
日経マイクロデバイス 第244号 2005.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第244号（2005.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全637字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （304kb） |
| 雑誌掲載位置 | 107ページ目 |
携帯電話機向けＭＣＰ（ｍｕｌｔｉ−ｃｈｉｐ ｐａｃｋａｇｅ）メモリーや多数個のフラッシュ・メモリーの同時テストに向けたＬＳＩテスター（図４）。ＤＵＴ（ｄｅｖｉｃｅ ｕｎｄｅｒ ｔｅｓｔ）とテスター・モジュール間の接続を短時間に変更するための専用ＬＳＩ「Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ Ｍａｔｒｉｘ（ＰＩＭ）」を開発し，テスター１台でＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリー，ＮＯＲ型フラッシュ，…
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