ＷＥＢ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜米Ｆｒｅｅｓｃａｌｅが名古屋にテスト・センターを開設　トヨタ・グループへの製品サポート迅速化狙う　高品質化技術の横展開も
日経マイクロデバイス　第239号　2005.5.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第239号（2005.5.1）
ページ数	1ページ　（全400字）
形式	PDFファイル形式　（50kb）
雑誌掲載位置	86ページ目

　米Ｆｒｅｅｓｃａｌｅ　Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ，　Ｉｎｃ．は２００５年３月１０日，「名古屋品質・テストセンター（ＮＱＡＴ：Ｎａｇｏｙａ　Ｑｕａｌｉｔｙ　Ａｎｄ　Ｔｅｓｔ　Ｃｅｎｔｅｒ）」を愛知県安城市に開所した。車載向け半導体のテスト・センターで，自動車業界における名古屋地域の重要性を考慮したもの。主にトヨタ・グループ各社への製品サポートを迅速化する狙いがある。まずは，ミックスド・シグナル製品…