Ｔｕｔｏｒｉａｌ：ＳｏＣ一発動作のための最新ＬＳＩ設計法＆ＥＤＡ〜ＤＦＴ技術を使いこなし テスト・コストの削減要求に応える安価なＬＳＩテスターで先端チップを検査
日経マイクロデバイス 第236号 2005.2.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第236号（2005.2.1） |
|---|---|
| ページ数 | 6ページ （全6824字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （91kb） |
| 雑誌掲載位置 | 106〜111ページ目 |
佐藤 康夫 半導体理工学研究センター（ＳＴＡＲＣ）設計技術開発部これまでの連載では，チップ設計に焦点を合わせてきたが，今回はテストについて考察する。テストとは，製造したチップをＬＳＩテスター上でチェックすることを指す。それに必要なデータを作成するのがテスト設計である。大規模・高速な先端ＳｏＣ（ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ ａ ｃｈｉｐ）を安価なＬＳＩテスターでテストするために，ＤＦＴ（ｄｅｓｉｇｎ ｆｏｒ …
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