Report[Memory]〜次世代メモリー「RRAM」 記憶素子の低温・高速形成に道
日経マイクロデバイス 第230号 2004.8.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第230号(2004.8.1) |
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ページ数 | 2ページ (全2323字) |
形式 | PDFファイル形式 (58kb) |
雑誌掲載位置 | 93〜94ページ目 |
次世代不揮発性メモリーRRAM(Resistance RAM)の量産を現実のものに近付ける成膜技術が登場した注1)。半導体関連の技術開発会社グローバルシリコンネット(GSN)が開発した。RRAMは,記憶素子の抵抗値変化によってデータを記録するメモリーである。開発していることを公にしているのはシャープなどに限られているが,GSNによると,水面下ではシャープ以外に複数の半導体メーカーが研究・開発中と…
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