Report[Logic]〜急増するバグを検証の新技術で撲滅へ 米Intelがマイクロプロセサで実用化
日経マイクロデバイス 第217号 2003.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第217号(2003.7.1) |
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ページ数 | 2ページ (全2828字) |
形式 | PDFファイル形式 (35kb) |
雑誌掲載位置 | 138〜139ページ目 |
重要性が増しているLSI検証にまた一つ新しい技術が加わった。仕様が正しいことを数学的に証明する「定理証明(theorem proving)」と呼ぶ技術である。この技術で検証した仕様はバグがないことを保証できるため,その後の検証作業を進める上で必須となる参照元,すなわち「ゴールデン・モデル」となる。米Intel Corp.がマイクロプロセサ「Pentium 4」の検証で実用化し,この6月に米国で開…
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