Report[Logic]〜製造バラつきを設計で補正 サブ100nm・ギガHz時代の新潮流
日経マイクロデバイス 第217号 2003.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第217号(2003.7.1) |
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ページ数 | 3ページ (全2845字) |
形式 | PDFファイル形式 (76kb) |
雑誌掲載位置 | 135〜137ページ目 |
製造バラつきで生じたロジックLSIの動作周波数分布を設計技術によって減らす。従来のモノ作りの発想とは相反する手法が,急速に広がる兆しを見せている。微細化と高速化の急進で従来手法だけの対応が困難になり,一部のLSIメーカーがこの手法の実用化に動き出した。“王道”だけでは対処できず モノ作りの王道は「製造バラつきの根本原因を対策してバラつきそのものを減らす」ことである。製造バラつきを設計で補正する手…
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