μレポート［ＬＳＩ設計］〜頭が痛いＳｏＣのテスト手法　コンソーシアムが効率向上に　向け仕様案を策定
日経マイクロデバイス　第210号　2002.12.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第210号（2002.12.1）
ページ数	1ページ　（全879字）
形式	PDFファイル形式　（98kb）
雑誌掲載位置	49ページ目

システムＬＳＩテスト業界標準システムＬＳＩのテスト効率を高めるための動きが活発になってきた。すでに２００２年７月にアドバンテストがテスト・コンソーシアムを設立することを発表しているが，そのコンソーシアムが１１月中には仕様案をまとめ，１２月に幕張で開かれる「セミコン・ジャパン　２００２」で提示する。２００３年４月には，仕様「Ｒｅｖｉｓｉｏｎ　１」として業界標準化を進める計画である。　システムＬＳＩの…