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特集 Part1〜75%が「異質」を指摘 異種技術連携で乗り切る
日経マイクロデバイス 第206号 2002.8.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第206号(2002.8.1) |
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ページ数 | 6ページ (全4462字) |
形式 | PDFファイル形式 (214kb) |
雑誌掲載位置 | 38〜43ページ目 |
微細化 戦略 研究・開発50nm時代に対するLSI技術者の危機感は強い。本誌がLSI技術者を対象に意識調査を実施したところ,「これまでとは質の違った難しさがある」という答えが全体の75%を占めた。技術的には,微細化の限界が様々な分野で一気に表面化することが大きい。デバイス,回路,ソフトウェアなどあらゆる異種技術を組み合わせて乗り切る方向である。一方,経営的な側面から50nmを開発する意義そのものに…
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