Details LSI(メモリー)〜高騰するマスク・コストの 問題を一気に解決する 描画技術が登場
日経マイクロデバイス 第178号 2000.4.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第178号(2000.4.1) |
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ページ数 | 2ページ (全2044字) |
形式 | PDFファイル形式 (43kb) |
雑誌掲載位置 | 145〜146ページ目 |
LSI製造露光技術マスク高騰するマスク・コストの問題を一気を解決する技術が登場した。この2月27日〜3月3日に米国サンタクララで開かれた「SPIE’s 25th International Symposium on Microlithography(Microlithography 2000)」で東芝とニコンが共同発表したマスク描画技術である。高価な電子ビーム(EB)描画装置を不要にしたことと,…
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