特集 リーク電流と闘う〜＜破綻か克服か＞ 「じゃじゃ漏れ」対策に 待ったなし
日経エレクトロニクス 第872号 2004.4.26
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第872号（2004.4.26） |
|---|---|
| ページ数 | 10ページ （全10386字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （164kb） |
| 雑誌掲載位置 | 100〜109ページ目 |
ＬＳＩの内部では，その動作とは関係のない電流が漏れ出している。この不要に漏れるリーク電流がＬＳＩの総消費電力のうち大きな比率を占めるようになってきた。高速マイクロプロセサから携帯電話機用ＬＳＩ，ＦＰＧＡといったさまざまな半導体で，リーク電流が大問題となりつつある。ＬＳＩの動作が高速になるほど，半導体の微細化が進むほど，リーク電流は大きくなる。対策に向けてエレクトロニクス・メーカーは，プロセス・デバ…
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