Ｉｎｓｉｄｅ ＥＤＡ〜統計的モデルを短時間に開発し，バラつきによる特性変動を高精度に解析
日経マイクロデバイス 第270号 2007.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第270号（2007.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 6ページ （全4810字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （677kb） |
| 雑誌掲載位置 | 177〜182ページ目 |
ＬＳＩの微細化が進み，プロセスなどのバラつきの影響を統計的に解析する設計技術が注目を集めている。その典型例が，信号パスの遅延時間を統計的に解析するＳＳＴＡ（ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ ｓｔａｔｉｃ ａｎａｌｙｓｉｓ）である。ただし，今のところＳＳＴＡは当初の期待ほどには普及していない。本稿では，米国の新興ＥＤＡ（ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ｄｅｓｉｇｎ ａｕｔｏｍａｔｉｏｎ）ベンダーの米Ａｎｏｖａ Ｓｏｌｕ…
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