Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「少しのサンプルでも大丈夫」ＮＥＣらがトグル率を高速推定する手法を提案
日経マイクロデバイス 第268号 2007.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第268号（2007.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全374字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （313kb） |
| 雑誌掲載位置 | 112〜113ページ目 |
ＮＥＣのシステムＩＰコア研究所とＮＥＣマイクロシステムは，ＬＳＩの論理検証の進展を表す指標の一つである「論理回路内のフリップフロップのトグル率」を高速に推定する手法を開発した。その内容を「ＤＡシンポジウム ２００７」で講演した。ＬＳＩの論理検証の進展を表す指標はいくつかあるが，その中でもトグル率は比較的よく使われている。しかし，ＬＳＩの規模が大きくなるにつれて，ソフトウェアのＲＴＬ（ｒｅｇｉｓｔ…
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