Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜半導体テストは「すべてトランジスタに任せればいい」「ＩＳＴＦ ２００７」から
日経マイクロデバイス 第268号 2007.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第268号（2007.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全459字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （313kb） |
| 雑誌掲載位置 | 112ページ目 |
「Ｉｎｄｕｓｔｒｙ Ｓｔｒａｔｅｇｙ ａｎｄ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｆｏｒｕｍ（ＩＳＴＦ ２００７）」の半導体テストに関するセッション「ＤＳＭ（ｄｅｅｐ ｓｕｂ−ｍｉｃｒｏｎ）時代のテスト品質を徹底討論！」では，最先端プロセスを使った半導体の試験について，パネリストから現状や課題が報告され，聴衆からはテストに関する質問が寄せられた。「ゲート当たりの製造コストは下がっているのに，テスト・コストは上…
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