Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「３５０億トランジスタのＳｏＣはテスト可能か」
日経マイクロデバイス 第264号 2007.6.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第264号（2007.6.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全286字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （302kb） |
| 雑誌掲載位置 | 103ページ目 |
「ＤＡＴＥ ２００７」の学会部門で，「２０２０年の３５０億トランジスタ（のチップ）はテスト可能か？」と題した特別セッションが開催された。以下のような講演だった。２０２０年のプロセス技術でトランジスタのゲート長は６ｎｍ，ゲート酸化膜厚は０．５ｎｍ，電源電圧は０．５Ｖになる。山積する課題に製造時のテストだけで品質を保証できず，システム動作時のダイナミックな自己テストと再構成可能な回路アーキテクチャが…
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