Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜富士通研究所など，低コストでＬＳＩ内の電源変動をリアルタイムに観測する技術を開発
日経マイクロデバイス 第262号 2007.4.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第262号（2007.4.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全220字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （334kb） |
| 雑誌掲載位置 | 105ページ目 |
富士通研究所は，エイアールテックの協力を得て，ＬＳＩ内の電源変動を観測するための新技術を開発したと発表した。従来手法よりも低コストで，リアルタイムな電源変動の観測を可能にした。同社は今回の技術を実装したチップを試作し，「ＩＳＳＣＣ ２００７」で発表した。測定器となる電源電圧変動センサーをエイアールテックが設計し，測定手法を実現するためのチップ・アーキテクチャと回路の設計を富士通研が担当した。［関…
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