Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「リーク電流の絶対値だけでなくバラつきも小さくする」
日経マイクロデバイス　第262号　2007.4.1

　米Ｂｌａｚｅ　ＤＦＭ，　Ｉｎｃ．の「Ｂｌａｚｅ　ＭＯ」は，消費電力やタイミングなど，性能が期待した値にならないパラメトリックのバラつきの是正を狙う。マスク・レイアウトが得られてから処理を始めるが，マスク・レイアウトは基本的に変更しない。後段で使うＯＰＣ（光近接効果補正）ツールの制約条件を出力し，これでトランジスタのゲート長を調整する。この際，内蔵のタイミング解析機能を使ってクリチカル・パスを考慮…