Tech−On!Ranking[LSI]〜「30nmへの微細化の道見えた」 東芝が浮遊ゲートの延命策を語る
日経マイクロデバイス 第250号 2006.4.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第250号(2006.4.1) |
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ページ数 | 1ページ (全342字) |
形式 | PDFファイル形式 (123kb) |
雑誌掲載位置 | 89ページ目 |
「浮遊ゲートでの30nm世代突破は第1目標,それ以降の微細化も見据えている」。東芝は,「NVSMW 2006」の初日に開催されたパネル・ディスカッションで,浮遊ゲート型フラッシュの微細化について,このような強気の見方を示した。同社は2005年から70nm世代のNAND型を量産しており,「まもなく55nm世代の量産を開始する」(パネリストとして登壇した東芝セミコンダクター社 メモリ事業部 フラッシ…
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