Ｎｅｗ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ　ログ・データから注目個所を自動検索可能〜ログ・データから注目個所を自動検索可能
日経マイクロデバイス　第249号　2006.3.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第249号（2006.3.1）
ページ数	1ページ　（全635字）
形式	PDFファイル形式　（315kb）
雑誌掲載位置	103ページ目

　ログ・データから注目個所を自動的に探し出す機能を備えたデジタル・オシロスコープ（図４）。一般にオシロスコープのデータ記録容量は増加しており，トリガの前後で２万画面分のデータを記録できる機種もある。しかし，多数の画面から，注目するデータや波形を探し出すのは容易なことではなく，「２万画面分の波形を見るだけで，１０時間近くかかる」（発売元の米Ｔｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ．）。今回の製品では，しきい値のエ…