Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「設計段階で歩留まりを見積もる手段を提供する」 ＤＦＭの米Ｐｏｎｔｅに聞く
日経マイクロデバイス 第245号 2005.11.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第245号（2005.11.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全323字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （240kb） |
| 雑誌掲載位置 | 105ページ目 |
米Ｐｏｎｔｅ Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ，Ｉｎｃ．の製品や手法の特徴などを，Ｓｅｎｉｏｒ Ｖｉｃｅ ＰｒｅｓｉｄｅｎｔのＮｉｔｉｎ Ｄｅｏ氏に聞いた。「半導体プロセスの微細化により，プロセス単位ではなく設計単位の歩留まり改善策が必要になってきた。しかし，これまでは設計者が歩留まりに触れる手段がなかった。われわれがその手段を提供する」と同氏は一気に語った。同社のツールは，レイアウト設計データを解析して，歩…
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