Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜難しくなるテストに３種のＤＦＴ技術で挑む ルネサスが講演
日経マイクロデバイス 第245号 2005.11.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第245号（2005.11.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全363字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （240kb） |
| 雑誌掲載位置 | 105ページ目 |
ＬＳＩのテストが加速度的に難しくなっている。ルネサス テクノロジは，９月２日に「ＥＤＡ Ｔｅｃｈ Ｆｏｒｕｍ ２００５」で講演し，ＬＳＩのロジック・ブロックに対して３種のＤＦＴ技術を使い分けていることなどを明らかにした。一つはスキャン設計手法。ツールは米Ｍｅｎｔｏｒ Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｃｏｒｐ．の「ＦａｓｔＳｃａｎ」を使っている。もう一つはＢＩＳＴで，社内開発の「信玄（社内の呼称）」を使っていた…
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